Mesure Expo Vision 2010
03 Juin 2010, Posté par dans Veille Salon
Résumé: Réunissant pour la première fois les anciens salons Mesurexpo et Vision Show, le nouveau salon Mesurexpovision 2010 s’est déroulé du 1er au 3 juin à Paris Porte de Versailles et est devenu l’évènement fédérateur des professionnels de la mesure, du test, de la simulation et des solutions de vision. En partenariat avec des organismes tels que Aste, Cetim, Collège Français de Métrologie, Réseau Mesure du Val d’Oise et SFP Symop, le salon Mesurexpovision a mis à l’honneur deux secteurs collant aux préoccupations des industriels, à savoir la métrologie et le contrôle non destructif. Parmi les faits marquants, on peut noter les progrès réalisés en tomographie et surtout en ultrasons multiéléments, rendant désormais possible des applications industrielles de ces contrôles non-destructifs..
Tags : mesure, métrologie capteur, traitement d’image, analyseur, spectrométrie, infrarouge, tomographie, contrôle non destructif, ultrasons multiéléments
Langue: Anglais – 57 pages • Sommaire
